TY - JOUR T1 - Scanning electron microscope as a flexible tool for investigating the properties of UV-emitting nitride semiconductor thin films JO - Photonics Research UR - http://eprints.whiterose.ac.uk/153548/ PY - 2019/10/30 AU - Trager-Cowan C AU - Alasmari A AU - Avis W AU - Bruckbauer J AU - Edwards PR AU - Hourahine B AU - Kraeusel S AU - Kusch G AU - Johnston R AU - Naresh-Kumar G AU - Martin RW et al ED - DO - DOI: 10.1364/prj.7.000b73 PB - The Optical Society VL - 7 IS - 11 SP - B73 EP - B82 Y2 - 2025/05/05 ER -