TY - JOUR T1 - Experimental verification of electrostatic boundary conditions in gate-patterned quantum devices JO - Journal of Physics D: Applied Physics UR - http://eprints.whiterose.ac.uk/137719/ PY - 2018/06/20 AU - Hou H AU - Chung Y AU - Rughoobur G AU - Hsiao TK AU - Nasir A AU - Flewitt AJ AU - Griffiths JP AU - Farrer I AU - Ritchie DA AU - Ford CJB ED - DO - DOI: 10.1088/1361-6463/aac376 VL - 51 IS - 24 Y2 - 2025/04/30 ER -